概要
       一代的X射線熒光分析顯微鏡XGT-7000開創(chuàng)了科學(xué)分析的新時(shí)代。它將光學(xué)圖像與元素分析地結(jié)合,為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。
       SDD檢測器保證了高速、高精度元素面掃描;高能量分辨率,高計(jì)數(shù)率的測量,且無需液氮。
       雙真空式設(shè)計(jì)確保用戶可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換(大氣或真空)。即使測量含水樣品、生物樣品時(shí)也可以保證測量所有元素的高靈敏度。
       的硬件設(shè)計(jì)確保了XGT-7000操作的靈活性和廣泛的應(yīng)用范圍。通過軟件控制x射線導(dǎo)管在10 µm和1.2 mm間切換,以保證獲得測量條件,無論是微觀到宏觀。
       與x射線導(dǎo)管同軸的CCD相機(jī),可以迅速、精確地定位感興趣區(qū)域。
單點(diǎn)及多點(diǎn)自動(dòng)分析

         單點(diǎn)和自動(dòng)多點(diǎn)分析功能使得無論是從單個(gè)分析位置或是用戶定義的一系列位置上均可以獲得高質(zhì)量的譜圖。
         可自動(dòng)標(biāo)注元素譜峰。使用基本參數(shù)法或單標(biāo)樣基本參數(shù)法或是標(biāo)準(zhǔn)樣品校正曲線法定量計(jì)算,可測量ppm級(jí)的含量。膜厚分析軟件可以分析nm級(jí)或µm級(jí)樣品的多層膜厚。
高光譜面掃描

         SmartMap軟件在每個(gè)像素點(diǎn)采集元素譜圖。采集結(jié)束后,用戶可以根據(jù)自己的分析,添加或刪除某個(gè)元素面分布圖,實(shí)現(xiàn)已有數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)脫機(jī)分析。
         X射線透射圖像有利于用戶觀察樣品內(nèi)部構(gòu)造,實(shí)現(xiàn)真正的無損內(nèi)部觀測。
特征
        有著諸多創(chuàng)新的XGT-7200在眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用:電子電器、發(fā)動(dòng)機(jī)磨損分析、法醫(yī)科學(xué)、地質(zhì)礦物、醫(yī)藥、博物館、冶金、生物等。
        XGT-7200的靈活設(shè)計(jì),保證用戶通過簡易的操作即可獲得高質(zhì)量的分析結(jié)果,無論是分析大區(qū)域,還是對(duì)微區(qū)細(xì)節(jié)分析,或是同時(shí)采集X射線熒光圖像和X射線透過像。
        HORIBA的X射線光管技術(shù)提供高空間分辨率微區(qū)XRF分析,X射線光斑直徑小到10微米。這種強(qiáng)度的超細(xì)光斑,可進(jìn)行快速無損的微細(xì)結(jié)構(gòu)分析。
                
        同時(shí)采集XRF圖像和X射線透過像的功能,可以用來分析無法用肉眼觀察到的樣品內(nèi)部構(gòu)造和元素組成。采用超細(xì)垂直的X射線束,即使觀察不平坦樣品也可以獲得清晰的內(nèi)部圖像。
                
         無二的雙真空模式設(shè)計(jì)- 彼此間的切換在數(shù)秒內(nèi)即可完成。
                    
完整地分析整個(gè)樣品
整合數(shù)據(jù)采集和分析的操作軟件
        界面友好的操作軟件允許用戶方便的控制硬件、選擇測量區(qū)域和全數(shù)據(jù)分析。功能包括:自動(dòng)標(biāo)定譜峰、定性定量測量、RGB圖像合成,線分析等。
                  
           大尺寸的樣品室使得分析整個(gè)樣品成為可能,用10微米束斑可以分析微小區(qū)域甚至到測量大至10cm x 10cm的區(qū)域。
規(guī)格
 
XGT-7200技術(shù)參數(shù)
測量元素:Na~U
X射線管:銠(Rh)靶 /管電壓 50 kV / 管電流 1 mA
X射線熒光檢測器:SDD硅漂移檢測器
透過X射線檢測器:NaI(Ti)晶體
X射線導(dǎo)管:單毛細(xì)管 10μm / 100μm 無濾光片
光學(xué)圖像:樣品整體光學(xué)像及共軸放大圖像
樣品臺(tái)尺寸:XY:100mm×100mm
樣品倉:全真空模式/ 真空 300mm×300mm×80mm
信號(hào)處理:數(shù)值脈沖處理器(INCA處理器 )
定性分析:自動(dòng)定義譜峰/ KLM線標(biāo)注/ 譜峰查找/ 譜峰匹配
定量分析:無標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)無標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)文件匹配基本參數(shù)法/ 校正曲線/ 多層膜基本參數(shù)法/ 多點(diǎn)分析(最多5000)/ 多點(diǎn)結(jié)果輸出至Excel®
面掃描功能:透過X射線像/ 元素面分布圖/ 譜圖面掃描 /矩形面掃描/ 生成譜圖/ RGB合成/ 標(biāo)尺/ 線分析
其它功能:可同時(shí)開啟XGT-5200操作軟件
產(chǎn)品相關(guān)圖及其它

